粒子画像解析ソフトウェア Viewtrac

目で見る粒子解析を机上で簡単に実現!
- 粒子の電子画像から粒子のサイズ、形状を解析、評価できます。
- 解析した条件は、登録、呼び出し再利用ができます。
- 各粒子の解析情報から粒度分布情報が出力できます。※
- 粒度分布情報は、専用解析プログラム上で簡単に解析、比較、出力できます。
※精度の高い粒度分布情報を得るためには、十分な数の粒子情報が必要です。
仕様
| 粒径解析 | 円相当径、楕円(相当)短径、楕円(相当)長径、最大フェレー径、最小フェレー径、慣性主軸長、慣性主軸幅、投影断面積、周囲長 |
|---|---|
| 形状解析 | アスペクト比、円形度 |
| 解析条件 | 実寸換算係数、2値化条件、フィルタ条件、グラフ設定、粒径区分(保存/再利用可) |
| 出力 | モニタ表示、印刷出力、CSV出力 |
解析例
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粒度分布比較例

インダストリアル事業本部
Tel: 03-3443-3747 / Fax: 03-3440-2543





























