電子顕微鏡・画像解析

粒子画像解析ソフトウェア Viewtrac

目で見る粒子解析を机上で簡単に実現!

  • 粒子の電子画像から粒子のサイズ、形状を解析、評価できます。
  • 解析した条件は、登録、呼び出し再利用ができます。
  • 各粒子の解析情報から粒度分布情報が出力できます。※
  • 粒度分布情報は、専用解析プログラム上で簡単に解析、比較、出力できます。

※精度の高い粒度分布情報を得るためには、十分な数の粒子情報が必要です。

仕様

粒径解析 円相当径、楕円(相当)短径、楕円(相当)長径、最大フェレー径、最小フェレー径、慣性主軸長、慣性主軸幅、投影断面積、周囲長
形状解析 アスペクト比、円形度
解析条件 実寸換算係数、2値化条件、フィルタ条件、グラフ設定、粒径区分(保存/再利用可)
出力 モニタ表示、印刷出力、CSV出力

解析例

アルミナ/光学顕微鏡 シリカボール/電子顕微鏡 たばこ葉/スキャナー

粒度分布比較例

合成 重ね描き 差分 時系列トレンド

お問い合わせ

インダストリアル事業本部

Tel: 03-3443-3747 / Fax: 03-3440-2543

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