
粒子径・粒度分布測定装置
粉粒体の特性評価の基本。
レーザー光やCCDカメラを使い粒子の大きさを測定する装置です。
ゼータ電位測定装置
粒子の帯電状態を測定し分散の安定性を評価する装置です。
電子顕微鏡・画像解析
試料を画像で観察・解説する装置やソフトウェアです。
比表面積測定装置
粒子表面に吸着させたガスの量から比表面積を求める装置です。
スプレー粒子構造解析装置
CTスキャン技術を用いてスプレー噴霧の内部構造を解析する装置です。
粉粒体測定装置 ニュース/イベント・セミナー
| 2010年03月03日 | 第一回 国際二次電池展(東京ビッグサイト 2010年3月3日~5日) |
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|---|---|---|
| 2010年03月01日 | PITTCON Expo 2010 (米国・フロリダ州 2010年3月1日~4日/ Microtrac Inc.による出展) |
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| 2010年02月17日 | nano tech 2010 国際ナノテクノロジー総合展(東京ビッグサイト 2010年2月17日~19日) |
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| 2009年10月21日 | 粉体工業展大阪2009(インテックス大阪 2009年10月21日~24日) |
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| 2009年09月16日 | 二次電池製造のための粉体技術セミナー (アルカディア市ヶ谷 2009年9月16日) |
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粒子径・粒度分布を測る
- 動的光散乱式/レーザードップラー式粒度分析計 ナノトラックUPAシリーズ
- ディスク高速遠心沈降式粒度分析計 BIシリーズ
- レーザー回折・散乱式粒度分析計 マイクロトラックMT3000IIシリーズ
- レーザー回折式粒度分析計 エアロトラックSPR
- 画像解析式粒度分析計 ミリトラックJPA
- インライン粒度分布測定システム インライントラックシリーズ
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Tel: 03-3443-3732 / Fax: 03-3473-5473

































