
粒子径・粒度分布測定装置
粉粒体の特性評価の基本。
レーザー光やCCDカメラを使い粒子の大きさを測定する装置です。
電子顕微鏡・画像解析
試料を画像で観察・解析する装置やソフトウェアです。
比表面積測定装置
粒子表面に吸着させたガスの量から比表面積を求める装置です。
スプレー粒子構造解析装置
CTスキャン技術を用いてスプレー噴霧の内部構造を解析する装置です。
粉粒体測定装置 ニュース/イベント・セミナー
| 2012年02月29日 | 第3回国際二次電池展 ~バッテリージャパン~ 出展のご案内(東京ビッグサイト 2012年2月29日~3月2日) |
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| 2012年02月15日 | nano tech 2012国際ナノテクノロジー総合展出展のご案内(東京ビッグサイト 2012年2月15日~2月17日) |
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| 2011年11月02日 | 日本ベル株式会社の株式の取得(子会社化)に関するお知らせを掲載しました。 |
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| 2011年10月19日 | 粉体工業展大阪に粉粒体評価装置を出展(インテックス大阪 2011年10月19日~10月21日 |
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| 2011年06月29日 | インターフェックスジャパンに粉粒体評価装置、ポンプを出展(東京ビッグサイト2011年6月29日~7月1日) |
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- CTエアロトラック
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粒子径・粒度分布を測る
- 動的光散乱式/レーザードップラー式粒度分析計 ナノトラックUPAシリーズ
- ディスク高速遠心沈降式粒度分析計 BIシリーズ
- レーザー回折・散乱式粒度分析計 マイクロトラックMT3000IIシリーズ
- レーザー回折式粒度分析計 エアロトラックSPR
- 画像解析式粒度分析計 ミリトラックJPA
- インライン粒度分布測定システム インライントラックシリーズ
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- ゼータ電位測定装置 ナノトラックUPA-UZ152
- ゼータ電位測定装置 ゼータパルス
- ゼータ電位測定装置 ゼータプラス
- ゼータ電位測定装置 ゼータビュー(画像解析式)
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流動法/BET1点法/BET多点法/直接比較法
精密機器事業本部 粒子計測機器部
Tel: 042-392-3378 / Fax: 042-392-3355



































